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兩箱式冷熱沖擊試驗箱
更多 +產(chǎn)品名稱： 兩箱式冷熱沖擊試驗箱
兩箱式冷熱沖擊試驗箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有：50L、100L、150L、216L、的內(nèi)箱尺寸；
備注：其他尺寸可非標(biāo)定制產(chǎn)品，具體規(guī)格參數(shù)以方案書為準(zhǔn)。
高溫沖擊范圍：+60℃～+150℃（可定制+200℃）
低溫沖擊范圍：X：0℃～-65℃、F：0℃～-55℃、L：0℃～-40℃（可選）
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三箱式冷熱沖擊試驗箱
更多 +產(chǎn)品名稱： 三箱式冷熱沖擊試驗箱
三箱式冷熱沖擊試驗箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有：50L、100L、150L、216L、的內(nèi)箱尺寸；
備注：其他尺寸可非標(biāo)定制產(chǎn)品，具體規(guī)格參數(shù)以方案書為準(zhǔn)。
高溫沖擊范圍：+60℃～+150℃（可定制+200℃）
低溫沖擊范圍：X：0℃～-65℃、F：0℃～-55℃、L：0℃～-40℃（可選）
- [技術(shù)文章]IC芯片行業(yè)中溫度沖擊試驗箱的介紹2020年11月02日 08:55
- 在IC芯片行業(yè)，溫度沖擊試驗是評估IC產(chǎn)品中具有不同熱膨脹系數(shù)的金屬之間的界面的接觸良率。方法是通過循環(huán)流動的液體從高溫到低溫重復(fù)變化。在快速溫度變化的過程中（比如日夜溫差，突然下雨，四季變化等），芯片會出現(xiàn)熱疲勞而失效，其能快速驗證芯片封裝材料、制程工藝等瑕疵。
- 閱讀（123） 標(biāo)簽：
- [技術(shù)文章]解讀溫度變化試驗的三種方法2020年10月31日 08:52
- 溫度變化試驗的三種方法對于研制過程中新產(chǎn)品，如何確定循環(huán)次數(shù)，從統(tǒng)計規(guī)律中總結(jié)出來的經(jīng)驗說明，產(chǎn)品的故障率同溫度的變化的循環(huán)次數(shù)有關(guān)，也同產(chǎn)品所含有的元器件、零部件的數(shù)量有關(guān)。
- 閱讀（211） 標(biāo)簽：
- [常見問答]溫度沖擊試驗箱是怎樣保持溫度“沖擊性”2020年10月10日 11:29
- 溫度沖擊試驗箱也稱作“高低溫沖擊性試驗箱、熱冷沖擊性試驗箱”，做為一款仿真模擬極端溫度自然環(huán)境的實驗設(shè)備，通常用以電子設(shè)備等制造行業(yè)。隨之現(xiàn)如今的智能科技，很多的創(chuàng)新產(chǎn)品被很多的開發(fā)設(shè)計研發(fā)出去，而電子產(chǎn)業(yè)做為一個新新迅速發(fā)展趨勢的行業(yè)，每一年有很多的商品被開發(fā)設(shè)計并投放市場，而在這種商品的身后，通常親身經(jīng)歷過很多的實驗，在其中溫度實驗被列為比成自然環(huán)境實驗。
- 閱讀（236） 標(biāo)簽：
- [技術(shù)文章]溫度循環(huán)與冷熱沖擊試驗的區(qū)別2020年09月09日 10:09
- 溫度沖擊試驗是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時間、循環(huán)數(shù)。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5 等。而溫度循環(huán)試驗影響篩選結(jié)果的主要參數(shù)為溫度變化范圍、溫度變化速率及循環(huán)次數(shù)。通常適用于組件級篩選。篩選溫度時間歷程考忠受篩產(chǎn)品通電和不通電兩種情況。
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